檢索結果:共11筆資料 檢索策略: "FPGA".ekeyword (精準) and cadvisor.raw="陳伯奇"
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(Field Programmable Gate Array, FPGA)並能夠抵抗製程、電壓與溫度(process-voltage-temperature, …
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在一切講求效率的時代,驅使產業界漸次朝向全面自動化發展,讓自動化測試設備(Automatic Test Equipment、簡稱ATE)的運用更為廣泛。相較於人工或半自動化測試,自動化測試設備能快速…
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(field programmable gate array, FPGA)並利用延遲回繞法為基礎的時間至數位轉換電路(Time-to-digital conve…
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(field programmable gate array, FPGA)並能夠抵抗製成、電壓與溫度(process-voltage-temperature, …
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)並利用延遲迴繞與加總平均法為基礎的改良式時間至數位轉換電路(Time-to-Digita…
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(Field Programmable Gate Array, FPGA)並利用延遲迴繞法為基礎的時間至數位轉換電路(Time-to-digital conve…
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隨著積體電路技術之精進,現今的電路功能日趨複雜。為了滿足大量製造之需求,自動測試成為積體電路製造過程中非常重要的一環。其中,自動測試儀器被廣泛運用,其前端模組核心電路之一即為數位至時間轉換器(Dig…
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本論文提出一個實現於現場可程式化閘陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)並利用鎖相迴路延遲矩陣為基礎之時間至數位轉換電路(Time-to-Digital con…
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